| Форма входа |
|
 |
| Меню сайта |
|
|
| Разное |
|
|
|
| Сейчас на сайте |
Онлайн всего: 5 Гостей: 5 Пользователей: 0 |
|
|
Метод ВИМС
|
| 19.09.2009, 07:18 |
Случайный текст с реферата
Калужский Филиал Московского Государственного Технического Университета им Н Э Баумана Кафедра Материаловедения и Материалов Электронной Техники Курсовая Работа по курсу Мим и Кэт на тему: “Вторично-ионная масс-спектрометрия“ выполнил: студент гр ФТМ — 81 Тимофеев А Ю. проверил: Леднева Ф И. г Калуга 1997 год. Содержание Введение3 Взаимодействие ионов с веществом3 Вторично-ионная эмиссия5 Оборудование ВИМС.8 Принцип действия установок.9 Установки, не обеспечивающие анализа распределения частиц по поверхности10 Установки, позволяющие получать сведения о распределении11 элемента по поверхности, со сканирующим ионным зондом Установки с прямым изображением11 Порог чувствительности12 Анализ следов элементов 14 Ионное изображение 16 Требования к первичному ионному пучку 17 Масс-спектрометрический анализ нейтральных18 распыленных частиц Количественный анализ19 Глубинные профили концентрации элементов22 Приборные факторы, влияющие на разрешение23 по глубине при изме...
|
| Категория: Физика | Добавил: bestmms
(409.0 Kb)
|
| Просмотров: 314 | Загрузок: 97
| Рейтинг: 0.0 |
Добавлять комментарии могут только зарегистрированные пользователи. [ Регистрация | Вход ] |
|
